光伏組件隱裂、熱斑、PID效應是影響晶硅光伏組件性能的三個重要因素，今天帶大家了解一下電池片隱裂的原因、如何識別及預防方法。

一、光伏組件隱裂的形成及分類

隱裂是晶體硅光伏組件的一種較為常見的缺陷，通俗的講，就是一些肉眼不可見的細微破裂（micro-crack）。晶硅組件由于其自身晶體結構的特性，十分容易發(fā)生破裂。在晶體硅組件生產的工藝流程中，許多環(huán)節(jié)都有可能造成電池片隱裂。隱裂產生的根本原因：

外力：電池片在焊接、層壓、裝框或搬運、測試等過程中會受外力作用，當參數(shù)設置不當、設備故障或操作不當時會造成隱裂。

高溫：電池片在低溫下沒有經過預熱，然后在短時間內突然遇到高溫后出現(xiàn)膨脹會造成隱裂現(xiàn)象，如焊接溫度過高、層壓溫度等參數(shù)設置不合理。

原材料：原材料的缺陷也是導致隱裂的主要因素之一。

根據(jù)電池片隱裂的形狀，大致可分為5個種類：樹狀裂紋、綜合型裂紋、斜裂紋、平行于主柵線、垂直于柵線和貫穿整個電池片的裂紋。

二、“隱裂”對組件性能的影響

晶硅太陽能電池片產生的電流主要靠表面相互垂直的主柵線和細柵線收集和導出。因此，當隱裂（多為平行于主柵線的隱裂）導致細柵線斷裂時，電流將無法被有效輸送至主柵線，從而導致電池片部分乃至整片失效，還可能造成碎片、熱斑等，同時引起組件的功率衰減。

三、識別“隱裂”的方法

EL（Electroluminescence，電致發(fā)光）是一種太陽能電池或組件的內部缺陷檢測設備，是簡單有效的檢測隱裂的方法。利用晶體硅的電致發(fā)光原理，通過高分辨率的紅外相機拍攝組件的近紅外圖像，獲取并判定組件的缺陷。具有靈敏度高、檢測速度快、結果直觀形象等優(yōu)點。下圖即是EL的檢測結果，清晰的顯示了各種缺陷和隱裂。

四、形成“隱裂”的原因

引發(fā)組件隱裂的因素很多，隱裂種類也很多，但不是所有的隱裂都會對電池片有影響，更不用談“隱”色變，只要科學的預防就能適當避免組件產生隱裂。在生產過程中，應避免電池片受到不當?shù)耐饬槿耄沧⒁鈨Υ姝h(huán)境溫度變化范圍。在焊接過程中電池片要提前保溫(手焊)烙鐵溫度要符合要求。在組件生產、運輸、安裝和維護過程中，考慮到晶硅組件的易裂特征，需要在安裝電站的各個過程注意并改進作業(yè)流程，盡量減少組件隱裂的產生。

五、預防光伏組件隱裂的要點

在生產過程中以及后續(xù)的存放、運輸、安裝中避免電池片受到不當?shù)耐饬槿?，也注意儲存環(huán)境溫度變化范圍。